تمامی مطالب مطابق قوانین جمهوری اسلامی ایران میباشد.درصورت مغایرت از گزارش پست استفاده کنید.

جستجو

طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (X-ray photoelectron spectroscopy)

    طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (X-ray photoelectron spectroscopy) گونه‌ای طیف‌سنجی کمی ا‌ست که در آن با تاباندن پرتو ایکس و اندازه گیری همزمان تعداد الکترون آزاد شده در فاصله 1 تا 10 نانومتری از سطح، و انرژی جنبشی این الکترون ها، طیف‌هایی بدست می‌آید که بیانگر برخی ویژگی‌های ماده است. این روش نیاز به خلا بسیار بالا دارد.

    از آنجا که انرژی پرتو ایکس تابانده شده مشخص است، می‌توان انرژی الکترون گسیل ‌شده را بوسیله قانون کار رادرفورد بدست آورد:

     

     

     

    که Ebinding انرژی پیوند الکترون، Ephoton انرژی پرتو ایکس تابانده شده، Ekinetic انرژی جنبشی الکترون (بوسیله دستگاه ویژه ای اندازه‌گیری می‌شود) و ϕ تابع کار طیف‌سنج (و نه ماده) است.

    شناسایی فرمول تجربی ، شناسایی ناخالصی های روی سطح ، پروفایل های ترکیبی توزیع عنصری  در فیلم های لایه نازک از کاربرد های عمده ی این روش می باشند.


    این مطلب تا کنون 55 بار بازدید شده است.
    ارسال شده در تاریخ سه شنبه 30 شهريور 1395 [ گزارش پست ]
    منبع
    برچسب ها : پرتو ,ایکس ,الکترون ,انرژی ,طیف‌سنجی ,پرتو ایکس ,ایکس تابانده ,photoelectron spectroscopy ,طیف‌سنجی فوتوالکترون ,فوتوالکترون پرتو ,
    طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (X-ray photoelectron spectroscopy)

پربازدیدترین مطالب

آمار امروز سه شنبه 4 مهر 1396

  • تعداد وبلاگ :55472
  • تعداد مطالب :149226
  • بازدید امروز :34202
  • بازدید داخلی :1578
  • کاربران حاضر :40
  • رباتهای جستجوگر:672
  • همه حاضرین :712

تگ های برتر